IONTOF: TOF-SIMS-Produkte für die Zeitflugsekundärionen-Massenspektrometrie und LEIS-Produkte für die Streuung von Niedrigenergieionen sowie die Ionenstreuungsspektroskopie (ISS).
Deutschland, Karlsdorf-Neuthard
Akkreditierte Sauberkeitsprüfungen, Restschmutzanalyse und Partikelanalyse inklusive Materialtypisierung.

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