Rasterelektronenmikroskope Firmen

...Das PlasmaPower Conditoner Tool dient als Plasma-Zündquelle für Rasterelektronenmikroskope. Es generiert die Zündspannung für ein FIB-Modul (Focused Ion Beam), z. B. zur Vorbehandlung der Probenoberfläche mit Plasma. Technische Spezifikationen: Eingang: 115 oder 230 V AC +/- 15 % wählbar mit Spannungsumschalter Ausgang: 500 V AC, 20 W, 40 mA LED-Zustandsanzeige Erhältliche Produkte: PlasmaPower Conditioner Tool im Tischgehäuse, Maße: 250 x 174 x 100 mm PlasmaPower Conditioner Tool als Einbausatz für 19“ Rackgehäuse Anschlusskabel Gewicht: 3,3kg...

Ihr Partner für wissenschaftliche Geräte und Messtechnik seit 1963. Die Schaefer-Tec Gruppe ist eine Vertriebsgesellschaft mit 60-jähriger Unternehmensgeschichte. Es ist unser Anliegen, technisch hervorragende Produkte für die Forschung und Industrie anzubieten und unseren Kunden jeder Zeit durch kompetente Beratung bei der Beschaffung und dem Einsatz zur Seite zu stehen. Wir zählen zu den führ...

...Rasterelektronenmikroskope mit fokussiertem Ionenstrahl oder kurz FIB-SEM von Carl Zeiss verbinden die 3D-Imaging- und Analysefähigkeiten der GEMINI Elektronensäule mit den Fähigkeiten eines FIB für die Materialverarbeitung und Probenpräparation im Nanomassstab. Beschleunigen Sie Ihre Tomografieabläufe: Verwenden Sie bis zu 100 nA FIB-Strom mit dem exzellenten Punktprofil, um die Lücke zwischen...

Firmenübersicht: Dr. Sommer Werkstofftechnik GmbH Dr. Sommer Werkstofftechnik GmbH ist seit über 30 Jahren ein führendes akkreditiertes Prüflabor, das auf Schadensanalyse und Werkstoffprüfung spezialisiert ist. Mit Sitz in Issum und einer Zweigstelle in Düsseldorf bietet das Unternehmen umfassende Dienstleistungen im Bereich der Werkstofftechnik an. Dienstleistungen und Kompetenzen Schadensanalys...

Die SPC Werkstofflabor GmbH ist als Servicepartner für die Werkstoffprüfung und Schadensanalyse von der Philosophie geprägt, dem Kunden zu jeder Zeit den besten Service zu bieten. Mit einem starken Team und kompetenten Partnern reizen wir alle Möglichkeiten bis an das Maximum aus. SPC führt Materialanalysen, metallographische und mechanisch-technologische Untersuchungen sowie zerstörungsfreie Prü...

...Mit Hilfe der Rasterelektronenmikroskopie können kleinste Partikel und Oberflächen untersucht werden. Die EDX-Analyse liefert die zugehörigen Element-Zusammensetzung der Mikroproben. Mit dem Rasterelektronenmikroskop können Oberflächen mit einer Vergrößerung von 10-fach bis 50 000-fach abgebildet werden. Bei der Relektronenmikroskopie wird ein gebündelter Elektronenstrahl Zeile um Zeile über...

Nanosurf ist ein in der Schweiz ansässiges High-Tech-Unternehmen, das Kunden weltweit mit Rastersondenmikroskopen versorgt. Unser Produktangebot beginnt mit sehr kompakten AFM- und STM-Geräten.

...Analyse von Materialproben auf Asbestfasern (semiquantitativ) gemäß der Richtlinie VDI 3866 Blatt 5 mit einem Rasterelektronenmikroskop mit energiedispersiver Röntgenmikroanalyse (EDX). Aufbereitung: Aufmahlen, Veraschung, Querschnitt oder Säurebehandlung (Abhängig von der zu untersuchenden Probe. Beurteilung durch unsere Experten.)...

... dem mobilen Labor vor Ort ist dies ein Vorteil. Für die Analyse von Proben mit Rasterelektronenmikroskop arbeiten wir mit ausgewählten akkreditierten Auftragslabors zusammen. Leistungen: Asbestanalysen in Feststoffen Raumluftmessungen gemäss Richtlinie VDI-3492 (Istzustandmessungen, Kontrollmessungen, Zonenfreimessungen, Schlussmessungen) Arbeitsplatzmessungen Kontrollmessungen mit Laser (on-line-Messungen) Methodenentwicklung Raumluftmessung: Kontrolle der Asbestfaser-Belastung nach einer Asbestsanierung...

... Einsatz. Bei der klassischen Metallographie werden Schnitte durch die Probe gelegt, in Kunstharz eingebettet und anschließend die Oberfläche angeschliffen und poliert. Mit speziellen Kontrastiermethoden (Ätzen) werden die Materialstrukturen (Gefüge) sichtbar und lassen sich am Lichtmikroskop oder Rasterelektronenmikroskop betrachten Das am REM angeschlossene EDX-System ermöglicht zudem die...

... Auflösung bis zur 1000-fachen Vergrößerung in Durch- und Auflicht, so dass neben den metallischen Werkstoffen auch Kunststoffe, mineralische Materialien und Verbundwerkstoffe charakterisiert werden können. Für noch höhere Auflösungen steht uns ein Rasterelektronenmikroskop mit EDX-Detektor zur Verfügung. Mittels magnetinduktiver sowie wirbelstrombasierter Messverfahren können wir auch zerstörungsfrei...

...Untersuchungen mittels Rasterelektronenmikroskop Ausführung von EDX-Analysen Im Dezember 2022 haben wir unsere Dienstleistungspalette durch REM-Untersuchungen ergänzt. Das REM ermöglicht zudem EDX-Analysen.

...Technische Ausstattung: - ZEISS EVO MA 15 – Rasterelektronenmikroskop für Hochvakuum und variablen Druckbereich. - Computergesteuerter REM mit Wolfram-Kathode - Dreilinsige Elektronenoptik Optibeam-Strahlkontrolle - Variabler Druckbereich zwischen 10Pa – 400Pa - EasyVP Druckeinstellung von HV zu VP ohne Wechsel der Druckreduzierblenden - Gaseinlass: Luft Spezifizierte Ortsauflösung...

... Verfahren mit einer hinreichend niedrigen spezifischen Nachweisgrenze, einer Differenzierung nach Faserform und guter Unterscheidung zwischen Asbestfasern und Fasern ähnlicher Mineralien aus Gesteinen zu wählen. Auch die Kosten der verschiedenen Methoden sind angemessen zu berücksichtigen. Hohe Analysekosten verleiten dazu, die Anzahl der Proben möglichst tief zu halten. Licht und Polarisationsmikroskopische Verfahren Rasterelektronenmikroskop (REM)/ energiedispersive Röntgenanalyse (EDXA) Luftmessungen...

... Handling des Gerätes eine wichtige Rolle einnimmt, sind JEOL Rasterelektronenmikroskope die erste Wahl. Durch Ihre Flexibilität hinsichtlich der Erweiterungen und der überdurchschnittlich hohen Lebensdauer, sind JEOL Instrumente für Industrie und Forschungseinrichtungen die perfekte Lösung zur Qualitätssicherung und Produktentwicklung. Alle JEOL REMs können optimal auf die entsprechenden Anwendungen...

...Im Jahr 2011 beauftragte uns der Würzburger Fotograf Stefan Diller damit, eine Fernsteuerungseinheit für sein Rasterelektronenmikroskop Philips 525 zu entwickeln. Dieses Mikroskop wird für wissenschaftliche Fotografie genutzt und besitzt nun - Dank der von uns entwickelten und gefertigten Miniatur-Module - Schnittstellen zu dem vorhandenen Arbeitsplatz-PC. So konnten zahlreiche Funktionen zur Detektor- und Focussteuerung automatisiert werden. Mit einer extern erstellten Steuerungssoftware können nun anstelle von Einzelbildern komplette Kurzvideos der zu untersuchenden Proben erstellt werden.

...Mit dem Rasterelektronenmikroskop (REM) werden fraktographische Untersuchungen an Brüchen oder im Labor geöffnete Rissflächen im Rahmen von Schadensfällen durchgeführt. Diese Untersuchungen sind zur Aufklärung der Schadensfälle unerlässlich. Durch die hohe Tiefenschärfe des Rasterelektronenmikroskops lassen sich sowohl unterschiedliche Bruchstrukturen, Bruchausgänge, Bruch- und...

... Mittelpunkt des Labors steht eine Druckgussmaschine. Die dazu vorhandene Peripherie gestattet die auf dem heutigen Stand der Technik notwendigen Versuche und Prototypenentwicklungen durchzuführen. Konsequent schließen sich Laboreinrichtungen zur Beurteilung, Prüfung, Analytik und Quantifizierung der auf der Druckgussmaschine erzeugten Produkte an. Laborausstattung Rasterelektronenmikroskop Industrieller Computertomograph Forschungs-Druckgussmaschine Metallographie Mechanische Werkstoffprüfung Analytik / RFA-Spektrometer Werkstatt zur Probenbearbeitung und -vorbereitung...

... Rasterelektronenmikroskope (SEM) als auch Transmissionselektronenmikroskope (TEM) setzen auf diesen Prozess. Das Auflösungsvermögen eines Mikroskops hängt inhärent von der Wellenlänge der elektromagnetischen Strahlung ab, die zur Erzeugung des Bildes verwendet wird. Wenn die Wellenlänge der Strahlung verringert wird, wird das Auflösungsvermögen erhöht. Da Elektronenwellenlängen ungefähr 100.000...

... Service auf Augenhöhe. Technische Details Rasterelektronenmikroskope EVO MA 10 mit LaB6 Kathode, ausgestattet mit: SE Detektor "High Definition“ 5 Flächen BSE Detektor Niedervakuum SE Detektor (10-133 Pa) EDX (Oxford Instruments X-act) AZtec Standard Auflösung (bei leitfähigen Proben): 2,0 nm bei 30 kV im Hochvakuum (SE Detektor) 3,4 nm bei 30 kV im VP Modus (Niedervakuum) (SE Detektor) 8,0 nm bei 3 kV im Hochvakuum (SE Detektor) 4,0 nm bei 30 kV im Hochvakuum (BSE Detektor)...

... dar. Basierend auf den patentierten microPREP™ Technologieworkflows ist dieses System in der Lage Proben für die Untersuchung mittels Transmissionselektronenmikroskop (TEM), Rasterelektronenmikroskop (REM) oder Atome-Sonden-Tomographie (APT) sowie für mikromechanische Tests mit einen sehr hohen Automatisierungsgrad herzustellen. Durch den Einsatz eines robusten Ultrakurzpulslasers werden die...

...In unserem modern ausgestatteten Labor für Oberflächenanalytik werden unsere Schichten, sowie entschichtete Substrate, bei bis zu 100.000-facher Vergrößerung untersucht und optimiert. Laborausstattung: digitales Rasterelektronenmikroskop mit EDX Lichtmikroskope mit digitalen Kameras Fischerscope XRF Kalottenschleifgerät Schichthaftungsmessung Rockwell-Tester Farbwertmessgerät...

... Rasterelektronenmikroskop mit EDX RFA Röntgenfluoreszenanalyse Salzsprühtestkammern Schichtdickenmessung optisch und elektrisch SECM (Scanning electrochemical microscopy) Elektrochemisches Rastermikroskop Stromquellen für Galvanik (gepulst und DC) (mehrere Typen) UV/VIS-Spektroskopie XRD Röntgendiffraktometrie Zug- und Druckprüfmaschine etc.

...)- Mikroskopie und Raman-Spektroskopie und bilden einen geeigneten, leitfähigen Untergrund für die Abbildung im Rasterelektronen-Mikroskop (EDX/WDX). Kontaminationen innerhalb des Produktionsprozesses sind oft auf Verunreinigungen durch feste Stoffe wie Partikel, Stäube und Organismen, aber auch auf flüssige und gasförmige Stoffe wie Produktrückstände und Aerosole, zurück zu führen. Diese...

... Rasterelektronenmikroskop (REM) mit EDX Röntgendiffraktometer Glimmentladungsspektrometer (GDOS) Klimatestkammer (Salzsprühnebeltest, Kondenswassertest) Die Werkstoffprüfung beschäftigt sich neben der Serienprüfung mit der Schadensanalyse und Prüfungen als Dienstleistung unabhängig von der Wärmebehandlung. Wir unterhalten auch mobile Prüfgeräte, wodurch eine Produktprüfung beim Kunden vor Ort möglich ist. Wenn es einen Weg gibt, etwas besser zu machen, finde (-n wir) ihn. Thomas Alva Edison (+HEAT) Röntgendiffraktometer Rasterelektronenmikroskop...

... Datums und weniger start verdichtet als herkömmlicher Gesteinskalk. Dies zeigt sich sehr deutlich unter dem Rasterelektronenmikroskop (siehe Abbildung), ursprüngliche organische Strukturen sind noch deutlich zu sehen. Durch diese sehr poröse Struktur löst sich der Kalk schneller und kann von der Pflanze sehr leicht aufgenommen werden. Diese luftige Struktur und der sehr feine Vermahlungsgrad...

... Energietechnik dem Bau- und Transportwesen, etc. Technische Daten Bildquellen: CCD/CMOS-Kamera Hochgeschwindigkeitskamera Rasterelektronenmikroskop (REM) Atomic-Force-Mikroskop (AFM) Laser-Scanning-Mikroskop (LSM) Röntgen-Computertomographie (CT) ... Unterstützte Bildformate: Alle Standard Bildformate (*.bmp, *.tiff, *.png, *.jpg) Analysen: Verschiebungsfelder lokale Dehnungsfelder...

...Unser Lichtmikroskop ist mit einer Fluoreszenz-Einrichtung ausgestattet. Die Fluoreszenz-Einrichtung ist besonders hilfreich, bei dem Nachweis von Mikrorissen und bei der Identifizierung von Bakterien mit FISH (Fluorescence in situ Hybridization). Mit unserem Rasterelektronenmikroskop (REM) stellen wir Objekte mit einem fokusierten Elektronenstrahl weit jenseits der lichtmikros...

...Das JEOL Neoscope - Benchtop-Rasterelektronenmikroskop wurde entwickelt, um ein sehr einfach zu bedienendes REM mit intuitiver Navigation und Echtzeit-Elementeanalyse anzubieten.

...Unsere beiden modernen Universal- Rasterelektronenmikroskope ermöglichen Untersuchungen auf technisch höchstem Niveau. Die hochauflösenden Analyseverfahren mit SE-, BSE und ESED- Detektor sowie der Möglichkeit der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX) erlauben, es auch kleinste Fehler und Abweichungen im Material aufzufinden. Die Rasterelektronenmikroskopie stellt ein Schlüsselverfahren...