Finden Sie schnell testem für Ihr Unternehmen: 2 Ergebnisse

LTBiS Life Test and Burn In System

LTBiS Life Test and Burn In System

LTBiS ist ein Multikanal-Laserdiodentreiber-System, das digital gesteuert und überwacht wird. In bis zu 10 Slave-Einschüben können Dioden (BF-Package) bis 2 A Laserstrom betrieben werden. LTBiS ist ein Multikanal-Laserdiodentreiber-System, das digital gesteuert und überwacht wird. Das System ist modular aufgebaut, in einem 19´´ Gerät mit "Master-Einschub" können so 1 bis zu 10 Laserdioden in jeweils einem "Slave" unabhängig voneinander betrieben werden. Die Steuerung und Überwachung des Laserdiodenbetriebs erfolgt mittels PC und Software des Kunden nach dessen Anforderungen. Somit können verschiedene Anwendungen realisiert werden, wie der parallele Betrieb vieler Pumplaser, das Einbrennen bzw. Lebensdauertest von Laserdioden, und auch Wareneingangsprüfungen. Die Slave-Einschübe nehmen Laserdioden mit BF-Package direkt in Klemmsockeln auf und diese sind somit einfach austauschbar. Ein Gerät mit halber Breite und Rack-Mounting können vereinbart werden. Im Standard befinden sich an der Frontplatte der Slaves FC-Kupplungen als optisches Interface. Dieses kann, falls die Geräte zur Aufnahme von Kennlinien genutzt werden sollen, durch einen Fotodiodeneingang ergänzt werden. Die intern verbaute Fotodiode wird dann extern mit einem Jumper zum Messen der Leistung in Vorwärtsrichtung genutzt. Der Laserdiodenstrom eines Slaves (ohne TEC) kann bis 2 A betragen. Die Ansteuerung ist über einfache, serielle Befehle über RS-232 (oder optional USB) möglich. Durch den Zugriff auf den Thermistor, die Monitorfotodiode (MPD) und optional eine in Vorwärtsrichtung messende Fotodiode kann man verschiedene Betriebsmodi und Anwendungen umsetzen. Optional ist ein externer, digitaler Modulationseingang (BNC / Frontplatte) möglich. Der Anschluss der Instruments erfolgt über IEC-320 mit 110-230 VAC (50-60 Hz). Es ist ein redundantes Power Supply vorgesehen.
Simulation für CPE Test

Simulation für CPE Test

Simulation für CPE Test → SIP, ISDN und Analog FX Simulation für CPE Test, komplexe Szenarien in verschiedenen Standard-Protokollen Simulieren und durchtesten → SIP, ISDN und Analog FX