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Anwendung Strahlungsdetektoren der Baureihe CXS- dienen der Messung von Alpha-, Beta-, Beta+-, Gamma- und Röntgenstrahlung. Sie können sowohl in der Spektroskopie als auch zum Intensitätsmonitoring im Zählmode eingesetzt werden. Eine große Auswahl verfügbarer Sensorköpfe gestattet es, den gesamten Gamma-Energiebereich von ca. 2 keV bis zu einigen MeV und den Beta-Energiebereich von 30 keV bis 2 MeV zu überdecken. Die Detektoren werden in der Röntgenfluoreszenzanalytik, in der Röntgendiffraktometrie, bei HPLC-Messungen, in der Absorptionsmeßtechnik, der Medizin, bei Kontaminationsmessungen, im Strahlenschutz, in der Medizintechnik, in Schulen und Praktika an Universitäten, im Verteidigungsbereich, bei Grenzkontrollen und im Umweltschutz eingesetzt. Es stehen empfindliche Flächen im Bereich von 2 mm² bis 400 mm² und Szintillationskristalle mit Absorptionstiefen bis 50 mm zur Verfügung, so dass eine optimale Anpassung an fast alle Messaufgaben erreicht werden kann. Hierbei sind die Detektoren mit aktiven Flächen zwischen 2 und 20 mm² vorzugsweise für spektroskopische Anwendungen mit mittlerer Energieauflösung und als Zähler geeignet. Die großflächigen Detektoren werden besonders für das Intensitätsmonitoring im Zählmode eingesetzt. Die Ausführungen als Beta-Sensoren besitzen auf Grund ihres Aufbaus eine sehr geringe Gamma-Empfindlichkeit und sichern den hocheffizienten Nachweis der Beta-Strahlung für alle an Luft detektierbaren Nuklide. Alle Detektoren können direkt an MCA's und Zähler angeschlossen werden und finden überall dort optimalen Einsatz, wo man kleine und kompakte Sensoren mit integrierter Elektronik braucht. Besondere Merkmale • modulare Detektionseinheiten für Alpha-, Beta-, Gamma-, Positronen- und Röntgenstrahlung • Komplett im Detektorgehäuse • kompakte Festkörpersensoren mit hoher Nachweiseffizienz bei geringsten Volumina • kleinste Gehäuseabmaße, Verstärkerelektronik und Diskriminator vollständig integriert • Energieauflösung: o ca. 1 keV im unteren -Energiebereich ohne Kühlung o ca. 30 KeV bei 137Cs (662 keV) • direkter Anschluss an MCA oder Zähler; Testsignaleingang, Zeitsignal für Koinzidenzbetrieb • Unempfindlich gegenüber elektromagnetischen Feldern • Energiebereich: - Gamma- und Röntgenstrahlung: 3 keV - 2 MeV - Betastrahlung: 25 keV - 5 MeV - Alphastrahlung > 2 MeV - Positronen > 1 MeV • Von außen einstellbare Energieschwellen bzw. Energiefenster • Kundenspezifische Modifikationen und spezielle Sensorköpfe

Beschichtungen für optische und glastechnische Komponenten für alle Spektralbereiche Individuelle AR-Coatings für Präzisions- und Laseroptik, diverse Industrieanwendungen INDIVIDUELLE AR-COATINGS FÜR PRÄZISIONS- UND LASEROPTIK, DIVERSE INDUSTRIEANWENDUNGEN Unsere Spezialität elektrischleitfähige Beschichtungen Rohrbeschichtungen (innen und außen) AR-Coating und Farbeffekt Sonderschichten auf Anfrage Standardentspiegelungen AR-VIS 450 - 750 nm T > 99 %, R ≤ 0,3 % (AUI=0°) AR-NIR 720 - 1100 nm T > 99 %, R ≤ 0,3 % (AUI=0°) AR-Diode 800 - 940 nm T > 99 %, R ≤ 0,2 % (AUI=0°) AR-YAG 1064 nm T > 99 %, R ≤ 0,2 % (AUI=0°) Breitbandentspiegelung beidseitig für AR 800 – 1000 nm AR (low absorption BBAR) Polarisation: s, p - Einfallswinkel: AOI=0 - 20° - T ≥ 99,5 % / R ≤ 0,5 % mit SiO2-Schicht (Passivation) Laserzerstörschwelle: > 500 W/cm2 Wisch- und kratzfest nach MIL-C-48497, Tesa-Abziehtest nach MIL-C-48497, inkl. T-Kurve Farbeffektfilter für Flughafen, Architektur, Objektdesign und Entertainment Kundenspezifische, individuelle, innovative Lösungen - Technisch hochpräzise (z.B. Airport, Railroad) und architektonische Aufgabenstellungen. - Herstellung jeder Farbschattierungspalette auf unterschiedlichsten Glas-, Quarzglas- und Glaskeramiksubstraten mit nahezu jeder Geometrie. - Farbeffektfilter mit hervorragender chromatische und mechanische Stabilität - Projekt- und Qualitätsmangement

LLA bietet 2 XRF Analysesysteme an. XRFline zur Analyse und in der Metallsortierung. LLA-Cen4 ist ein 4-kanaliger Röntgenfloureszentdetektor für wissenschaftliche Anwendungen. Inkl. Software Mögliche Anwendungsgebiete sind (LLA-Cen4): ■ ‘On the fly‘ Röntgenfluoreszenz-Scans ■ XANES/EXAFS Messungen an massiven Proben bzw. Proben mit sehr geringer Konzentration, die für Absorptionsmessungen nicht geeignet sind Alle XRF Systeme werden mit PC, Netzteil und Auswertesoftware ausgeliefert.