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Schichtdickenanalyse mit dem RFA-Gerät FT150

Schichtdickenanalyse mit dem RFA-Gerät FT150

Genaue Schichtdickenmessung bis zum letzten Nanometer Das FT150 ist in der Lage, ultradünne Beschichtungen zu messen, wie sie zum Beispiel in den immer kleiner werdenden Elektronikkomponenten im Bereich von Leiterplatten, Halbleitern, Mikrosteckern usw. vorkommen. Der hohe Durchsatz des FT150 ist wegen der polykapillaren Optik und des hochpräzisen Vortex® Röntgenfluoreszenzdetektors möglich.